Röntgenfluoreszenzverfahren zur Schichtdickenmessung und Materialanalyse

• Messmethode: Röntgenfluoreszenzverfahren (zerstörungsfreie Methode)
• Normen: DIN EN ISO 3497 und ASTM B 568
• Messfleck: 50×50 µm bis ∅ 3,0 mm
• Messung nahezu beliebiger Schichtkombinationen möglich

    Anwendungsmöglichkeiten

• Vermessung von Ein- und Mehrschichtsystemen
• Materialanalysen (Stahl-, Buntmetall- und Leichtmetallanalysen)
• Edelmetallanalysen (Feingehalt- und Schichtdickenmessungen)
• Messung dünner Schichten (nm-Bereich) und Spurenanalysen
• Bestimmung des Schichtgewichts von Konversionsschichten
• RoHS-Analysen
• Steckkontakte, Leiterplatten, funktionelle und dekorative Schichten