Schichtdickenprüfung mit RFA und WD-RFA

  • Messmethode: Röntgenfluoreszenzverfahren (zerstörungsfreie Methode)
  • Normen: DIN EN ISO 3497 und ASTM B 568
  • Messfleck: 50×50 µm bis ∅ 3,0 mm
  • Messung nahezu beliebiger Schichtkombinationen möglich
  • Vermessung von Ein- und Mehrschichtsystemen
  • Materialanalysen (Stahl-, Buntmetall- und Leichtmetallanalysen)
  • Edelmetallanalysen (Feingehalt- und Schichtdickenmessungen)
  • Messung dünner Schichten (nm-Bereich) und Spurenanalysen
  • Bestimmung des Schichtgewichts von Konversionsschichten
  • RoHS-Analysen
  • Steckkontakte, Leiterplatten, funktionelle und dekorative Schichten
Schichtdickenprüfung mit RFA

Ansprechpartner/in

Alexander Pfund

Downloads

Alle Prüfverfahren auf einen Blick (Pdf)
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