Die Wellenlängendispersive Röntgenfluoreszenzanalyse ermöglicht präzise Materialanalysen durch die Untersuchung von Röntgenfluoreszenzemissionen, besonders geeignet für leichte Elemente.
Röntgenfluoreszenzverfahren zur Schichtdickenmessung und Materialanalyse
- Messmethode: Wellenlängendispersive Röntgenfluoreszenzanalyse (zerstörungsfreie Methode)
- Normen:
- Fe, Ni, Co: ASTM E1085-2022; ASTM E572:2021; ASTM E2465:2019, DIN EN 10315:2006-10
- Cu: DIN EN 15063-1: 2015-03, DIN EN 15063-2: 2007-01
- Ti: ASTM E539:2019
- Messfleck: 6, 10, 20, 27, 32, 37 mm + 1mm im sogenannten small-mapping Modus
- Hohe Auflösung mit höchster Genauigkeit und sehr geringe Nachweisgrenzen, insbesondere für leichtere Elemente
Anwendungsmöglichkeiten
- Hochpräzise Legierungsanalyse von
- Kupferlegierungen
- Aluminium- und Titanlegierungen
- Niedrig- und hochlegierten Stählen. Nickel- und Kobaltbasislegierungen
- Semiquantitative Analysen von Feststoffen aller Art
- Schichtanalysen mit dem Schwerpunkten:
- sehr dünne Schichten
- leichte Elemente