15.04.2011

Focused Ion Beam Rasterelektronenmikroskop (FIB)

Vor kurzem wurde am fem ein Focused Ion Beam Rasterelektronenmikroskop (FIB), ein Zeiss Auriga 60 Crossbeam, in Betrieb genommen. Dieses hochmoderne System erweitert das Untersuchungsspektrum der bereits vorhandenen Rasterelektronenmikroskope (REM) in den Bereichen Materialforschung und Bauteilprüfung erheblich. Mit der Dual-Beam-Technologie lassen sich winzige Defekte oder andere interessante Bereiche auf schonende Weise genauestens präparieren und mikroskopisch betrachten. Zur Oberflächenanalyse und Fehlerinterpretation bietet das fem seinen Kunden damit eine weitere Verbesserung seines Dienstleistungsangebots. Weitere Informationen: PDF Download

Die Anschaffung des Focused Ion Beam Rasterelektronenmikroskops wurde durch Mittel des Europäischen Fonds für regionale Entwicklung (EFRE) sowie des Landes Baden-Württemberg ermöglicht.

www.rwb-efre.baden-wuerttemberg.de
www.ec.europa.eu/regional_policy/index_de.htm