Einführung in die Rasterelektronenmikroskopie und die Focused Ion Beam Technologie

12. Oktober 2017 | fem
Z.O.G. Veranstaltung in Zusammenarbeit mit dem fem

Die Kombination der analytischen Möglichkeiten der Rasterelektronenmikroskopie mit den materialabtragenden Eigenschaften einer Gallium-Ionenkanone eröffnet ein breites Anwendungsspektrum. Theoretische Grundlagen der Rasterelektronenmikroskopie (SE, RE, EDX, EBSD, STEM) und von Focused Ion Beam (FIB). Einführung in die grundlegenden Methoden anhand von Anwendungsbeispielen: Abbildung, EDX-Analyse, Querschnitte, Probenstrukturierung, in situ Entnahme von TEM Lamellen. Nachmittags sind praktische Demonstrationen an verschiedenen Geräten geplant, in denen die theoretische Einführung veranschaulicht wird.

LernzielEinführung in die Methoden und Anwendungsmöglichkeiten von REM und FIB.

Zielgruppe: Fachleute im Bereich Materialwissenschaften und Oberflächentechnik.

Kosten: € 360,– (inkl. Lehrgangsunterlagen und Mittagessen) / € 288,– für Z.O.G.-Mitglieder (inkl. Lehrgangsunterlagen und Mittagessen)

Dauer: 1 Tag

Termin: 12. Oktober 2017

Ort: fem | Forschungsinstitut Edelmetalle + Metallchemie, Katharinenstraße 17, 73525 Schwäbisch Gmünd

Teilnahme wird durch Zertifikat bescheinigt.

Anmeldung erfolgt über die Website des Z.O.G.: www.zog.de